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    产品名称:德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    产品型号:XDL 240

    产品报价:

    产品特点:德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪采用自动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。

    XDL 240德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪的详细资料:

    德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    FISCHERSCOPE ® X-RAY XDL ® 240

    射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用自动方

    式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层

    及大规模生产的零部件上的镀层。

     

    德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    简介

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及

    材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自

    动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

    XDL 240 特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

    典型的应用领域有:

    • 测量大规模生产的电镀部件

    • 测量超薄镀层,例如:装饰铬

    • 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

    • 全自动测量,如测量印刷线路板

    • 分析电镀溶液

    XDL 240 有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。

    比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。

    由于采用了 FISCHER 完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样

    品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

    设计理念

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 是一款用户界面友好的台式测量仪器。马达驱动的 X-

    工作台,当测量门打开时,工作台会自动移到放置样品的位置;马达驱动的 Z 轴系

    统,可编程运行。

    高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以精确定位测量位置。通过视频

    窗口,还可以实时观察测量过程和进度。配备了激光点,可以辅助定位并快速对准测

    量位置。

    测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测

    量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。

    带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的精确调

    整。

    所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能

    强大而界面友好的 WinFTM ® 软件在电脑上完成。

    XDL 型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合

    德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

     

    德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    通用 规格

    设计用途 能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液

    分析。

    元素范围 从元素 氯(17) 到 铀(92)

    配有可选的 WinFTM® BASIC 软件时,zui多可同时测定 24 种元素

    设计理念 台式仪器,测量门向上开启

    测量方向 由上往下

    X  射线源

    射线管  带铍窗口的钨管

    高压 三档: 30 kV40 kV50 kV

    孔径(准直器) Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm Ø 0.2 mm;长方形 0.3 mm x 0.05 mm

    测量点尺寸 取决于测量距离及使用的准直器大小,

    实际的测量点大小与视频窗口中显示的一致

    zui小的测量点大小约 Ø 0.2mm

    X  射线探测

    射线接收器

    测量距离

    比例接收器

    0 ~ 80 mm,使用保护的 DCM 测量距离补偿法

    样品定位

    视频系统

    高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置

    手动聚焦,对被测位置进行监控

    十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸)

    可调节亮度的LED照明,激光光点用于精确定位样品

    放大倍数 40x  160x

    电气参数

    电源要求 220 V 50 Hz

    功率 zui大 120 W (不包括计算机)

    保护等级 IP40

    尺寸规格

    外部尺寸 宽×深×高[mm]570×760×650

    内部测量室尺寸 宽×深×高[mm]460×495x(参考“样品zui大高度”部分的说明)

    重量 120 kg

    环境要求

    使用时温度 10° 40°C

    存储或运输时温度 0° 50°C

    空气相对湿度 ≤ 95 %,无结露

    工作台

    设计 马达驱动,可编程 X/Y 平台

    255 x 235 mm

     80 mm/s

     0.01 mm 单向

    300 x 350 mm

    马达驱动,可编程运行

    140 mm

    5 kg,降低精度可达 20kg

    140 mm

    X/Y 平台zui大移动范围

    X/Y 平台移动速度

    X/Y 平台移动重复精度

    可用样品放置区域

    轴移动范围

    样品zui大重量

    样品zui大高度

    激光(级)定位点

    计算单元

    计算机 带扩展卡的 Windows ® 计算机系统

    软件 标准: WinFTM ® V.6 LIGHT

    可选: WinFTM ® V.6 BASICPDMSUPER

    执行标准

    CE 合格标准  EN 61010

    型式许可 作为受完全保护的仪器

    型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

     

    德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪

    订货号

    FISCHERSCOPE X-RAY XDL240  604-498

    如有特殊要求,可与 FISCHER 磋商,定制特殊的 XDL 型号。

    FISCHERSCOPE ® ; XDL ® ; WinFTM ® ; PDM ®  Helmut Fischer GmbH Institut für Elektronik und Messtechnik, Sindelfingen  Germany 的注册商标。

    Windows ®  Microsoft Corporation 在美国及其他地区的注册商标。

     

     如果你对XDL 240德国X射线荧光镀层测厚及材料分析仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

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